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    上海臻精機(jī)械有限公司 

    淺析PCB板材離子遷移的因素

    發(fā)布時(shí)間:2020-06-17

    近年來(lái),手機(jī)、筆記本等電子產(chǎn)品不斷向更輕薄、更便攜的方向發(fā)展,這使得印刷電路板(PCB)的設(shè)計(jì)線路更密集,孔間距、線間距更加狹小。為了保證產(chǎn)品的絕緣可靠性,PCB的耐離子遷移性越來(lái)越受到關(guān)注。

    PCB在高濕環(huán)境和電勢(shì)梯度的存在下,發(fā)生離子遷移,形成導(dǎo)電陽(yáng)極細(xì)絲,是導(dǎo)致PCB故障的重要原因之一。


                                       圖為上海臻精IMV離子遷移測(cè)試系統(tǒng)

    目前,電子工業(yè)中最常用的PCB基材是FR-4環(huán)氧玻璃布板。環(huán)氧玻璃板由環(huán)氧基體和多層經(jīng)緯編織的玻璃纖維增韌材料復(fù)合制成。CAF是導(dǎo)電陽(yáng)極和陰極之間發(fā)生離子遷移形成的沉積物,離子遷移主要沿著環(huán)氧基體與玻璃纖維之間的界面發(fā)生。離子遷移可以發(fā)生在PCB上與玻璃纖維接觸的兩個(gè)鄰近導(dǎo)體之間。離子遷移的路徑有41.金屬化孔-金屬化孔,2.金屬化孔-電路,3.電路-金屬化孔4.電路-電路。由于金屬化孔直接與玻璃纖維接觸,所以離子遷移最常發(fā)生于兩個(gè)金屬化孔之間。

    PCB板的耐離子遷移性受到一系列因素的影響,既有PCB板的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)、材料的選擇等內(nèi)部因素,也有加工過(guò)程、儲(chǔ)存環(huán)境和工作環(huán)境等外部因素。

    1、基材材料的種類

    不同種類的樹(shù)脂和增強(qiáng)材料具有不同的耐離子遷移能力。一般來(lái)說(shuō),吸水率低的材料,其耐離子遷移性也較強(qiáng),但是材料的價(jià)格也許會(huì)更貴。

    2、PCB的儲(chǔ)存和工作環(huán)境:

    環(huán)境濕度是影響PCB耐離子遷移性的重要因素。在PCB的制造、儲(chǔ)存、運(yùn)輸和工作過(guò)程中,都可能由于環(huán)境濕度高而發(fā)生吸水現(xiàn)象。研究人員在PCB的耐離子遷移性測(cè)試中發(fā)現(xiàn),CAF的形成存在一個(gè)臨界相對(duì)濕度值,當(dāng)環(huán)境濕度低于這一臨界值時(shí),不會(huì)發(fā)生CAF的形成和增長(zhǎng)。

    溫度是影響離子遷移過(guò)程的另一個(gè)重要因素。溫度對(duì)PCB耐離子遷移性的影響在PCB的制造、加工、儲(chǔ)存、運(yùn)輸和工作過(guò)程中都有體現(xiàn)。如PCB的制造包含了熱壓,焊接等高溫過(guò)程,導(dǎo)致PCB經(jīng)歷熱偏移。由于環(huán)氧樹(shù)脂和玻璃纖維具有不同的熱膨脹率,這些熱偏移過(guò)程會(huì)導(dǎo)致二者的粘結(jié)界面被破壞。此外,溫度的升高還會(huì)加快陽(yáng)極銅金屬的電化學(xué)腐蝕過(guò)程。在板材的吸水過(guò)程中,溫度升高會(huì)導(dǎo)致吸水速率變快。

    3、PCB的制造加工過(guò)程:

    助焊劑:PCB板的焊接中需要使用助焊劑,助焊劑由一系列無(wú)機(jī)和有機(jī)化合物組成。如松香、樹(shù)脂、含鹵化物的活性劑、添加劑和有機(jī)溶劑組成的松香樹(shù)脂系助焊劑。助焊劑的使用會(huì)對(duì)PCB的耐離子遷移性造成影響。這些助焊劑可能會(huì)有部分溶解于板材中,導(dǎo)致基體材料的吸水性增加,從而降低了PCB板材的耐離子遷移性。

    玻璃纖維布的表面處理:在制備復(fù)合材料之前,需要對(duì)玻璃纖維布進(jìn)行表面處理。硅烷偶聯(lián)劑被用于玻璃纖維的表面處理,在樹(shù)脂和玻璃纖維之間起連接作用。硅烷偶聯(lián)劑的選擇和預(yù)處理會(huì)影響環(huán)氧-玻璃纖維界面的粘結(jié)強(qiáng)度。在潮濕環(huán)境下,硅烷水解會(huì)導(dǎo)致粘結(jié)界面的剝離。

    另外加工過(guò)程,如板材打孔、生產(chǎn)環(huán)境、清洗技術(shù)等,都會(huì)對(duì)板材的耐離子遷移性產(chǎn)生影響。

         上海臻精IMV推出的HiP-1000/2000/3000高壓型離子遷移測(cè)試儀最大的特點(diǎn)是采用 1 個(gè)通道 、1 個(gè)電源 、 1 個(gè)測(cè)量電路方法和雙結(jié)構(gòu)有主動(dòng)保護(hù)電纜實(shí)現(xiàn)高壓應(yīng)用。該機(jī)型盡管可以施加高電壓,但是可以限制低電壓,配備互鎖裝置,可防止因操作失誤而導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。即使是1000V,也可擴(kuò)展通道數(shù)達(dá)到256個(gè)。使用IMV開(kāi)發(fā)的離子遷移測(cè)試儀,我們支持您所需的可靠性測(cè)試。